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主要用晶圓測試時(shí)實(shí)現(xiàn)測試機(jī)與被測裸片的電氣聯(lián)接,通過傳輸信號(hào)對(duì)芯片參數(shù)進(jìn)行測試。
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主要用于晶圓測試時(shí)實(shí)現(xiàn)測試機(jī)與被測裸片的電氣聯(lián)接,通過傳輸信號(hào)對(duì)芯片參數(shù)進(jìn)行測試。
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