該設(shè)備主要實(shí)現(xiàn)Touch 類產(chǎn)品的Sensor電性檢測(cè),針對(duì)觸控屏Sensor的電容陣列進(jìn)行自容/互容容值測(cè)量、連線電阻測(cè)量、虛短/虛斷測(cè)量等;可精確區(qū)分多種不良,并自動(dòng)分類缺陷產(chǎn)品。
該設(shè)備主要實(shí)現(xiàn)Touch 類產(chǎn)品的Sensor電性檢測(cè),針對(duì)觸控屏Sensor的電容陣列進(jìn)行自容/互容容值測(cè)量、連線電阻測(cè)量、虛短/虛斷測(cè)量等;可精確區(qū)分多種不良,并自動(dòng)分類缺陷產(chǎn)品。
采用高分辨率工業(yè)相機(jī)對(duì)AMOLED顯示屏的多個(gè)畫面進(jìn)行成像,通過高速的子像素定位、曲面圖像展平及拼接、子像素亮度轉(zhuǎn)換、Mura灰階-亮度建模等圖像處理技術(shù),生成像素級(jí)補(bǔ)償數(shù)據(jù)并完成燒錄。
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